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Aktuelle Meldungen der Professur MfM
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Foto: Jan-Peter Kasper (Universität Jena)

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  1. 3D surface measurement
    Foto: Jens Meyer (Universität Jena)
  2. LOGO
    Illustration: Beilstein - Institut
  3. graphic abstract
    Abbildung: Alper Özogul
  4. Figure 4
    Abbildung: Aitor Zambudio
  5. Tapping-Mode AFM topograhpy and adhesion maps
    Foto: Zhairabany
  6. surface patterns resulting from single scan lines
    Foto: Pedro J. Martínez, Enrico Gnecco, and Juan J. Mazo
  7. Buchcover
    Foto: Springer Verlag
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